「SUMMARY」 耐糖能異常(IGT)は, 糖尿病へ移行する可能性のあるハイリスク群であり, 糖尿病のみならずIGTを含む糖代謝異常は, 脳梗塞発症の危険因子である. さらに, 脳梗塞患者において糖尿病が未診断とされているにもかかわらず, 糖負荷試験を行うことにより新規糖代謝異常とインスリン抵抗性が高率に診断される. 脳梗塞においては糖尿病の合併がなくとも, 可能な限り糖負荷試験を行うことが新規糖代謝異常の早期診断に有用である. 「はじめに」 糖尿病は高血圧, 脂質異常症と並ぶ脳卒中発症の危険因子の一つとして重要である. さらに, 耐糖能異常(impaired glucose tolerance: IGT)や空腹時高血糖(impaired fasting glucose: IFG)は, 健常者と糖尿病の境界に位置付けされる糖代謝異常(abnormal glucose metabolism: AGM)であり, 日本人におけるIGTの有病率が国際的にみても高い水準にあることが指摘されている1). 久山町研究において, IGTの段階でも脳梗塞発症の相対危険度は男性1.60倍, 女性2.97倍に増加することが報告されている2). IGTはインスリン抵抗性を合併していることが多く, インスリン抵抗性の病態は動脈硬化の発症および進展に強くかかわっている.